标准粒子应用于仪器校准介绍

以粒度标准物质应用于激光粒度分析仪校准为例：
激光粒度分析仪主要有激光器、样品池、光电探测器、信号放大及 A/D 转换装置、用于仪器控制和颗粒粒径大小及分布计算的计算机组成。

其原理是：一个有代表性的颗粒样品以一定浓度分散在适当的液体介质中，光束（通常是激光）通过该介质，光遇到颗粒后以各种角度散射，由多元检测器测量这些散射光强度，并且记录散射图上相应的数值用于随后的分析。使用相应的光学模型和数学模型转化这些散射光数据，从而得出颗粒样品的粒径大小及分布。

粒度分析仪的校准主要考察以下三个方面：
1. 仪器测量的重复性
对同一粒度标准物质的重量（体积）中位直径 D50 重复测量时，仪器测量值的相对标准偏差不大于 3%。

2. 仪器测量相对误差
对粒度标准的 D50 测量时，仪器测量值与粒度标准物质的标准值间的相对误差不大于规定的技术指标。

3. 仪器分辨力
根据仪器在 1 微米 -20 微米测量范围内对两个单峰分布粒度标准物质的分辨能力，分为两个等级。

仪器校准使用的粒度标准物质应为政府计量行政部门批准的，粒度分布在仪器测量范围内的球形粒度有证标准物质。校准证书或校准报告上应记录全部校准结果及校准时环境条件。校准证书应给出校准结果及测量不确定度。建议仪器复校时间间隔不超过 1 年，根据实际使用情况，用于可自行确定仪器复校时间。